WALK-IN (ROOM) CHAMBER

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항온, 항습, 저온, 에이징(Aging) 등 대형 챔버(Chamber)로 고객사양에 맞추어 제작이 가능한 설비

Description	General specification
Temp. Range	-40℃ ~ 80℃
Temp. Uniformity	±2℃
Humi. Range	30 ~ 95%
Humi. Distribution	±3%
Cooling Type	수냉식/공냉식
Applied Sample	LCD / OLED / MOBILE PANEL / Etc

AGING CHAMBER

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LCD/OLED module에 40-60 ℃ 고온 Aging을 실시하여 불량 및 품질특성을 선별 하기 위한 장비

Description	General specification
Type	Rack Type, Batch Type
Temp. Range	40℃ ~ 60℃
Temp. Uniformity	±3℃
Control Display	Touch Panel / Manual Controller
Applied Sample	LCD / OLED

THERMAL SHOCK TEST CHAMBER

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온도 변화를 매우 짧게하여 시료의 급격한 온도 스트레스를 가하는, 시료의 온도환경 시험에 적합한 LAP 신뢰성 장비로, 반도체 등 중소형 전기·전자 부품과 소형·대형 LCD/OLED 등에 적용

Description	General specification
Type	3Zone Damper Type / 2Zone Elevator Type
Temp. Range	-60℃ ~ 150℃
Temp. rising/falling time	MIN ~ MAX , With in 5,10,15min
Temp. Uniformity	±5℃
Cooling Type	수냉식/공냉식
Applied Sample	Small sample / Semiconductor. Etc

TEMP & HUMID CHAMBER

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LCD/OLED 모듈 등 시료의 온도·습도 환경시험 조건을 제공하는 신뢰성 장비로, LCD 판넬, 모바일 모듈, 반도체 등 중소형 전기·전자 부품에 적용 가능

Description	General specification
Type	1 ZONE / 2 ZONE
Temp. Range	-40℃ ~ 100℃
Temp. Rrising	1℃ / min (STANDARD)
Temp. Uniformity	±2℃
Humid. Range	30 ~ 98%
Humi. Rising	3% / min (STANDARD)
Humi. Distribution	±3%
Cooling Type	수냉식/공냉식
Applied Sample	LCD / OLED / MOBILE PANEL / Etc

OVEN (BAKE, CLEAN, MULTI)

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부품이나 모듈의 건조(Dry), 베이크(Bake), 큐어(Cure)등을 위한 장비로 고온으로 제품의 내구성과 신뢰성 시험 가능

Description	General specification
Type	1Zone, 2Zone, 4Zone
Temp. Range	40℃ ~ 500℃
Temp. Uniformity	±2%
Applied Sample	LCD / OLED/ 반도체, 전기 전자 등 생산현장